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三離子束切割儀在微納米尺度的切割中具有廣泛的應用前景。然而，由于微納米尺度的切割要求更高的精確性和控制能力，所以也面臨著一些挑戰(zhàn)。本文將重點探討三離子束切割儀在微納米尺度切割中的挑戰(zhàn)，并介紹相應的應對策略。在微納米尺度的切割中，較大的挑戰(zhàn)之...
電子顯微鏡觀察的樣品需經過鍍膜處理，以實現(xiàn)或改善樣品的成像效果。相比傳統(tǒng)鍍膜機，徠卡EMACE鍍膜機的所有零件都可以單獨拆卸和清洗；如需特別清潔，還可以用備用零件換下原裝件。例如，大玻璃門是可拆卸的，并且平面易于擦拭。內部護罩、轉移艙、載物臺和光源同樣支持輕松拆卸，便于清潔或更換。本教程詳細介紹了清潔徠卡EMACE鍍膜機的步驟，以及拆卸內部組件的方法。徠卡EMACE鍍膜機的清潔程序清潔過程所需物品：乳膠丁腈手套→重要：手套外部可能被粉末（滑石粉）或灰塵污染，因此佩戴前需先用肥...
全場景顯微成像分析平臺MICA集3D采集和AI定量于一體。3D組織成像廣泛應用于生命科學領域。研究人員利用它來揭示組織組成和完整性的詳細信息，或從實驗操作中得出結論，或比較健康與不健康的樣本。本文介紹了MICA如何幫助研究人員進行3D組織成像。3D組織成像模式生物或患者的組織切片可用于分析從組織到細胞的各種形態(tài)，進而發(fā)現(xiàn)健康和非健康樣本以及對照樣品和實驗樣品之間的差異。例如，是否存在特定細胞或它們的形態(tài)（即形狀、體積、長度、面積）都是有意義的參數(shù)。熒光顯微鏡有助于識別特定標記...
真空鍍膜儀是一種常用的實驗設備，用于在物體表面形成薄膜。在使用過程中，可能會遇到各種故障。以下是一些常見的真空鍍膜儀故障及解決方式：泄漏問題：泄漏是最常見的故障之一。可能是由于密封圈老化、密封不良、管路連接松動等原因導致的真空泄漏。泄漏會導致真空度下降，影響薄膜的質量和均勻性。泵無法啟動：如果真空泵無法啟動，可能是由于電源故障、線路連接錯誤、電機損壞等原因。此時需要檢查電源供電情況、線路連接是否正常，必要時需要更換電機。真空度下降：在使用過程中，真空度突然下降可能是由于泵故障...
透射電子顯微鏡所需的高真空度（TEM）極大地減弱了研究自然存在于水相中的標本的能力：將“濕”標本暴露在遠低于水蒸汽壓的壓力下，將導致水相在柱中迅速沸騰，對標本的結構造成破壞性后果。因此，在常規(guī)TEM中使用了各種方法在檢查前干燥標本——這是一個準備步驟，通常與限制結果重要性的偽影有關。冷凍透射電子顯微鏡一種解決標本制備過程中干燥問題和顯微鏡真空中水分揮發(fā)性問題的方法是在-180°C及以下的特殊支架中，以低升華速率在冷凍狀態(tài)下檢查樣品。這項技術被稱為冷凍透射電子顯微技術（冷凍TE...
想象一下，您可以輕松彌合微米和納米兩種尺度之間的差距，連接功能性和超微結構的信息。對于特定的研究問題，這意味著采用不同的樣本制備和顯微成像技術來結合多種模式，如活細胞成像、高壓冷凍、超薄切片和（冷凍）電子顯微成像。CLEM方法有助于彌合這一差距。徠卡顯微系統(tǒng)的CLEM解決方案可確保樣本活性、進行質量檢查，確保三維目標定位機制精確可靠。用戶可以利用這些解決方案的優(yōu)勢，在合適的時間立即識別合適的細胞，獲得高分辨率的冷凍共聚焦數(shù)據，或將熒光信息與超微結構環(huán)境結合起來。CLEM的用途...
